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电镀层测厚仪的基本测量原理

发布时间:2019-05-05 阅读:141

    电镀层测厚仪广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器,

    是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款仪器,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

    电镀层测厚仪的基本测量原理:

    射线在穿透一定厚度的物质时,其强度呈指数规律衰减,这和半衰期的公式相似,其公式为:

    I=Tr*EXP(-UX)

    Tr为初始射线强度,I为穿过物体后的射线强度,U为衰减系数,X为射线穿过的厚度。

    对于不同的材料,衰减系数U是不同的,因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的U值。一般而言,材料密度越大,其U值就越大,比如铅的密度在天然非放射性元素中的密度是zui大的,其相应的射线阻挡能力就越强,因此在核实验中用作屏障,与之类似的就是铅玻璃。

电镀层测厚仪采用电磁感应法测量镀层厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电阻感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,这个距离即镀层厚度。

 

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